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dc.contributor.author黃俊傑en_US
dc.contributor.authorHUANG, JUN-JIEen_US
dc.contributor.author陳明哲en_US
dc.contributor.authorCHEN, MING-ZHEen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:09:29Z-
dc.date.available2014-12-12T02:09:29Z-
dc.date.issued1991en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT802430053en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/56087-
dc.description.abstract為了使先進雙載子電晶體能有好的性能,在製造元件之前,我們必需花費一些時間 去做元件的模擬分析。此篇論文將依據實驗設計法及回歸分析探討出一個新的統計 方法來減少模擬的次數並且建立介於元件特性和結構參數的二次模式。元件模擬器 PISCES-IIB被用來執行模擬的工作。同時,利用二次模式我們可以分析結構參數對 元件特性的影響及在一組指定的規格下得到元件最佳化的設計範圍。另外,我們亦 探討介於元件特性間的相關性以加速元件特性的描述。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject反應面方法zh_TW
dc.subject雙載子元件zh_TW
dc.subject最佳式zh_TW
dc.title使用反應面方法於雙載子元件的最佳化zh_TW
dc.titleOptimization of bipolar devices using response surface methodologyen_US
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文