均值偏移公差配置問題之探討

完整後設資料紀錄

DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	李美琴	en_US
dc.contributor.author	Mei-Chin Lee	en_US
dc.contributor.author	許錫美	en_US
dc.contributor.author	Hsi-Mei Hus	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-12T02:10:13Z	-
dc.date.available	2014-12-12T02:10:13Z	-
dc.date.issued	1992	en_US
dc.identifier.uri	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT810030025	en_US
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/56606	-
dc.description.abstract	由於製程之均值偏移會嚴重影響工件組合後之不良率，所以本研究在進行公差配置時，以統合模式描述公差堆疊情形，以確實考慮均值偏移對公差配置之影響使用製程能力指數Cp及Cpk 來衡量均值偏移之程度，對於連續型之公差配置問題，使用GINO軟體求此統合模式之最佳公差配置；對於非連續型之製程選擇問題，以節省成本最大之原則，求其滿足公差堆疊限制，且成本最低之製程組合本論文將統合模式公差配置之研究，應用於硬式磁碟機磁頭飛行高度之公差配置問題，以實例說明考率均值偏移下之公差配置	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	均值偏移;公差配置;統合模式	zh_TW
dc.subject	mean shift; tolerance allocation; Unified Model	en_US
dc.title	均值偏移公差配置問題之探討	zh_TW
dc.title	A Study on Mean Shift Tolerance Allocation	en_US
dc.type	Thesis	en_US
dc.contributor.department	工業工程與管理學系	zh_TW
顯示於類別：	畢業論文