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dc.contributor.author蔡甲文en_US
dc.contributor.authorCai, Jia-Wenen_US
dc.contributor.author潘犀靈en_US
dc.contributor.authorPan, Xi-Lingen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:16:17Z-
dc.date.available2014-12-12T02:16:17Z-
dc.date.issued1995en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT844124005en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/61152-
dc.description.abstract我們首次使用以半導體雷射為光源的光電鎖相及電光取樣技術,成功地測量了砷化鎵 微帶線上的高頻駐波到16GHz。這個技術使得我們可以很方便且精確地,得知微波傳 輸線的特性,諸如:電壓駐波比、反射係數和色散特性等重要參數。利用我們的技術 在相位量測上的優越露敏度,我們分析了4GHz到16GHz的駐波相位,並且得知了砷化 鎵微帶線的色散特性及反射係數。這些結果和理論值相當地吻合。我們也擴展這個技 術,對一段傳輸線作了S參數量測。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject光電工程zh_TW
dc.subject光學zh_TW
dc.subject光電鎖相zh_TW
dc.subject電光取樣技術zh_TW
dc.subject反射係數zh_TW
dc.subject色射特性zh_TW
dc.subject電壓駐波比zh_TW
dc.subjectOPTI-ELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.subjectOPTICSen_US
dc.titleElectro─optic RF Standing Wave Measurement Technique and its Applicationszh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department光電工程學系zh_TW
顯示於類別:畢業論文