損耗性平面式Marchand Balun理論

Abstract

本篇論文主要研究損耗性平面式Marchand Balun理論，建立起嚴格的理論分析，以便將該理論運用在目前Si製程，進一步整合數位電路邁向SOC(system on chip)。 在分析過程中，剛開始用到傳輸線理論，然後耦合線理論最後利用耦合線理論推廣至損耗性平面式Marchand Balun理論。 論文中主要介紹兩種類型Marchand Balun—類型一與類型四，其中類型一為目前最常用，也是用最久的類型，因為其完美匹配條件所需的耦合量約-4.8 dB，在board 或chip level 很容易做到。而類型四的完美匹配條件所需耦合量約-1.8 dB，這只有在chip level 可以辦到，因為我們可以利用IC立體的特性,增加線圈的耦合量,此外它的操作頻寬也大於類型ㄧ。 既使類型ㄧ、類型四輸入阻抗不匹配、損耗性、傳輸線長度不等於中心頻率四分之一波長，它們皆可當成Balun使用。