以光纖式原子力顯微術研究液晶配向膜在固體表面之性質

Abstract

本論文是以光纖式原子力顯微術來研究鍍在矽晶片表面的液晶配向膜。我們測量光纖探針與配向膜樣品接近時，探針振幅隨著與樣品距離改變而變化的情形，因而分辨液晶配向膜之間的差異性。我們使用的兩種液晶配向膜為：DMOAP (N,N-dimethyl-N-octadecyl-3-aminopropyltrimethoxysilyl chloride) 及MAP (N-methyl-3-aminopropyltrimethoxysilane)。 實驗的結果顯示：（1）若以現有的光纖探針配合原子力顯微鏡將無法直接辨別液晶配向膜在固體表面的分佈，（2）我們利用測量探針振幅與樣品距離的關係，可以得到液晶配向膜在表面的作用力影響範圍為DMOAP＞MAP，（3）利用不同品質參數的探針所做的測量結果顯示出擺動振幅越大的探針受樣品表面作用力的影響距離越長。