標題: 釩摻雜鋯酸鍶記憶體薄膜之雙穩態電阻轉換特性
Bistable Resistive Switching Properties of V2O5-doped SrZrO3 Memory Films
作者: 杜丙章
Bing_-Chung Tu
曾俊元
Tseung-Yuen Tseng
電子研究所
關鍵字: 電阻式記憶體;鋯酸鍶;電阻轉換;RRAM;SZO;Resistive Switching
公開日期: 2005
摘要: 近來,由各種材料所研製的各類新式非揮發性記憶受到廣泛的注意。其中,電阻式記憶體由於具有雙穩態電阻值特性,可在同一偏壓下表現出兩種不同電阻值之特性,並且具有高寫入及讀取速度,非破壞性讀取,結構簡單(金屬—絕緣體—金屬之結構)的優點,將有助於達到高密度積體整合,低功率損失的目的。因此電阻式記憶體儼然成為下一世代非揮發性記憶體之候選人。 在本篇論文中,我們使用釩摻雜的鋯酸鍶(鈣鈦礦結構材料)來製作電阻式記憶體。首先,我們將介紹鈣鈦礦結構及基本的電流-電壓雙穩態電阻值轉換特徵。在實驗的部分,我們使用濺鍍法製造不同濃度釩摻雜的鋯酸鍶記憶體薄膜,並以鎳酸鑭作為底電極,鋁作為上電極來形成金屬—絕緣體—金屬的結構。然後將其物理及電學特性將於第三章報告。最後,我們也將歸納出元件的電流傳導機制,並探討不同濃度釩摻雜的影響對元件的影響。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009311586
http://hdl.handle.net/11536/78059
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