標題: 以對比為基礎的液晶面板瑕疵偵測系統
Contrast Based Mura Detection System for Liquid Crystal Display Panels
作者: 鄞毅捷
Yin, I-Chieh
王聖智
Wang, Sheng-Jyh
電子研究所
關鍵字: 瑕疵;偵測;液晶面板;人眼視覺;人因實驗;mura;panel;LCD;detection;human vision model
公開日期: 2008
摘要: 在本論文中,我們提出一個能夠自動偵測LCD 面板上亮度不均勻的瑕疵,
並且以符合人眼視覺的方式去量化這些瑕疵的嚴重程度。其中,我們希望處理的
瑕疵包括: 水平或垂直跨整個螢幕的帶狀瑕疵,水平或垂直跨整個螢幕很細且訊
號很弱的細線瑕疵,以及在螢幕上緣像窗簾一樣亮暗間隔的窗簾瑕疵。針對帶狀
瑕疵和細線瑕疵,我們提出偵測的方法,並且以符合人眼視覺的方式去量化瑕疵
的嚴重程度,而窗簾瑕疵部份,我們則是提出偵測的方法。關於帶狀瑕疵的偵測,
我們先採用二次微分的運算去找出影像中亮度不均勻的帶狀區域,然後計算這些
可能是帶狀瑕疵區域的對比值,最後再利用清華大學所進行的人因實驗結果,來
決定人眼對這些瑕疵的感受程度。關於細線瑕疵的偵測,由於訊號十分微弱,不
易偵測,我們一樣先利用二次微分去找每個點跟附近點之相對亮暗關係,然後利
用細線瑕疵整條線的一致特性,來找到可能是瑕疵發生的地方,最後再利用人因
實驗的結果去決定人眼對這些區域的感受程度。關於窗簾瑕疵的偵測,則可以被
當成是只有影像上緣的帶狀瑕疵偵測,但是由於缺乏相關人因實驗的配合,所以
在這部份我們將只討論此類瑕疵的偵測。在本論文中,我們完成了這幾種瑕疵的
偵測與量化技術,並且經過實驗來證明這些演算法的確卻可以有效地找到瑕疵並
加以量化。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT009411687
http://hdl.handle.net/11536/80601
顯示於類別:畢業論文


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