探討掃描光學顯微術之一些新功能

Abstract

本論文的第一個部份是呈現出利用單光子鎖模偵測技術來分析表面穩定鐵電液晶的動態調制，此技術不但可以有效的抑制拉曼光譜的直流基底，而且會產生有關特定之拉曼最高點的振幅及相位調制。摻雜氧化鋅奈米微粒會比未摻雜的表面穩定鐵電液晶以比較有組織性的狀態隨外加調制電場轉動，並且因此對於高頻率轉動所產生的混亂效應會有較好的抗性。此方法提供傳統的拉曼顯微術新的功用，對於探討在薄膜中具有電光主動性之空間分佈及動態調制。 在第二部份我們會藉由表面增強拉曼散射的技術來調查由於奈米柱的高外觀比例所造成的拉曼散射光譜的方位角相依性以及利用單光子鎖模偵測技術測量8CB分子吸附在銀奈米柱陣列上的拉曼圖像。最後部份我們藉由近場光學顯微術來分析聚焦高斯光束的輪廓並得到在繞涉極限之下的100奈米解析度。