統計資料

總造訪次數

檢視
Investigation on Robustness of CMOS Devices Against Cable Discharge Event (CDE) Under Different Layout Parameters in a Deep-Submicrometer CMOS Technology 117

本月總瀏覽

檔案下載

檢視
000261573000006.pdf 4

國家瀏覽排行

檢視
中國 96
美國 16
台灣 2
印度 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 95
Menlo Park 11
Oakland 3
Kensington 2
Mumbai 1
Shanghai 1