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dc.contributor.author張振雄en_US
dc.contributor.authorCHANG CHEN-SHIUNGen_US
dc.date.accessioned2014-12-13T10:30:30Z-
dc.date.available2014-12-13T10:30:30Z-
dc.date.issued2005en_US
dc.identifier.govdocNSC94-2112-M009-033zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/90287-
dc.identifier.urihttps://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1109733&docId=210164en_US
dc.description.abstract我們利用不同的方法成長矽、鍺奈米微粒在多孔矽內、在多孔矽內將 Er3+離子電鍍入內,進行初步結構鑑定與分析檢測。在光學性質、奈米結構 及電子能態性質量測方面,本計畫包含了變溫拉曼光譜、光致螢光、穿隧 式電子顯微鏡以及兆赫光波等量測。奈米材料之大小相應的尺寸效應、維 度效應、發光機制以及聲子頻譜,是我們希望觀察並研究的現象。zh_TW
dc.description.sponsorship行政院國家科學委員會zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject奈米材料zh_TW
dc.title矽鍺奈米晶體之生長與材料特性之研究zh_TW
dc.titleThe Growth of Nanocrystals and Their Material$s Properties of Silicon and Germaniumen_US
dc.typePlanen_US
dc.contributor.department交通大學光電工程研究所zh_TW
顯示於類別:研究計畫


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  1. 942112M009033.PDF

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