矽鍺奈米晶體之生長與材料特性之研究

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DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	張振雄	en_US
dc.contributor.author	CHANG CHEN-SHIUNG	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:30:30Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:30:30Z	-
dc.date.issued	2005	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC94-2112-M009-033	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/90287	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1109733&docId=210164	en_US
dc.description.abstract	我們利用不同的方法成長矽、鍺奈米微粒在多孔矽內、在多孔矽內將 Er3+離子電鍍入內，進行初步結構鑑定與分析檢測。在光學性質、奈米結構及電子能態性質量測方面，本計畫包含了變溫拉曼光譜、光致螢光、穿隧式電子顯微鏡以及兆赫光波等量測。奈米材料之大小相應的尺寸效應、維度效應、發光機制以及聲子頻譜，是我們希望觀察並研究的現象。	zh_TW
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.subject	奈米材料	zh_TW
dc.title	矽鍺奈米晶體之生長與材料特性之研究	zh_TW
dc.title	The Growth of Nanocrystals and Their Material$s Properties of Silicon and Germanium	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	交通大學光電工程研究所	zh_TW
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