Full metadata record
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 巫木誠 | en_US |
dc.contributor.author | WU MUH-CHERNG | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-13T10:31:40Z | - |
dc.date.available | 2014-12-13T10:31:40Z | - |
dc.date.issued | 2004 | en_US |
dc.identifier.govdoc | NSC93-2213-E009-082 | zh_TW |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/91094 | - |
dc.identifier.uri | https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1007017&docId=189783 | en_US |
dc.description.abstract | 檔控片(或稱測試片)是半導體廠用來監控製程品質的晶圓。檔控片經過酸 槽清洗回收之後,可依其潔淨度再使用或降級下游的工作站使用。過去文獻大多 研究檔控片降級的最適決策,以節省檔控片的整廠用量。然而,如何藉由改善各 工作站檔控片清洗回收的良率,以節省檔控片的用量,則甚少探討。半導體廠內 使用檔控片的工作站很多,每個工作站都有檔控片清洗回收的問題。在預算有限 的狀況下,如果要改善清洗回收的良率,應該優先改善哪些工作站,以最小化整 廠檔控片的用量,則尚未有文獻探討。本研究計畫擬構建此決策問題的數學模 型,並發展求解方法。本研究擬以「基因演算法」及「邊際分配法」求解此問題, 並且比較此兩方法求解之效率與品質。 | zh_TW |
dc.description.sponsorship | 行政院國家科學委員會 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 檔控片 | zh_TW |
dc.subject | 測試片 | zh_TW |
dc.subject | 良率改善 | zh_TW |
dc.title | 半導體廠檔控片清洗回收良率規劃 | zh_TW |
dc.title | Yield Improvement Planning for Test Wafers in Semiconductor Manufacturing | en_US |
dc.type | Plan | en_US |
dc.contributor.department | 國立交通大學工業工程與管理學系 | zh_TW |
Appears in Collections: | Research Plans |
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