完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 洪志真 | en_US |
dc.contributor.author | SHIAU JYH-JEN HORNG | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-13T10:32:40Z | - |
dc.date.available | 2014-12-13T10:32:40Z | - |
dc.date.issued | 2004 | en_US |
dc.identifier.govdoc | NSC93-2118-M009-007 | zh_TW |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/91669 | - |
dc.identifier.uri | https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1001668&docId=188257 | en_US |
dc.description.abstract | 在品管上,一般而言,製程或產品之品質特性都是一個變數。然而對某些製程而言, 品質特性是由反應變數和一或多個解釋變數間之關係來界定。因此一個品質特性乃以一 個函數、一條曲線或是一個曲面之資料型式來呈現,稱之為profile (縱斷面或剖面)。本 計劃主旨在於研究探討如何有效地監控製程profiles。Kang and Albin (2000) 和Kim, Mahmound, and Woodall (2003),在假設所有的profiles 是同一條直線加上隨機誤差下, 提出一個監控方法來監控profiles。本計劃將研究如何利用無母數迴歸模型讓profiles 的 函數形式更具彈性。第一年之研究計畫中,考慮直接將Kang and Albin (2000)之簡單線 性模型推廣成無母數迴歸模型。先研究在SPC phase I 中如何由歷史資料用無母數迴歸 方法估出in control 下之參考模型,及如何建構profiles 的管制準則,如在SPC phase I 如 何判定historical profiles 資料是否為in control,和在phase II 中如何監控新profiles 的 管制準則。第二年之研究計畫將考慮一個更合乎許多真實狀況的模型:這些profiles 有 類似形式,但卻又有個別差異性。我們將採用random effects 模型來描述這樣的profiles, 並研究如何建構出監控profiles 的判定準則。第三年我們想研究另一種模型之可行性。 想法是將製程profiles 用一個隨機過程來描述,而將這些profiles 看成此隨機過程之 realizations。由這些profiles 資料我們去估計此隨機過程的特性,如平均函數和共變異函 數等。然後利用這些特性來判定一個新產品profile 是否為此隨機過程之一個realization, 亦即製程是否為in control。Profile monitoring 之研究正在起步,本計劃所提之研究在學 術上和實際應用上都有貢獻。 | zh_TW |
dc.description.sponsorship | 行政院國家科學委員會 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.title | 製程Profiles之監控---應用無母數迴歸方法 | zh_TW |
dc.title | Profile Monitoring by Nonparametric Regression | en_US |
dc.type | Plan | en_US |
dc.contributor.department | 國立交通大學統計學研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 研究計畫 |