以干涉相位測量法探討對掌物質的特性及其相關應用(I)

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DC 欄位	值	語言
dc.contributor.author	蘇德欽	en_US
dc.contributor.author	SU DER-CHIN	en_US
dc.date.accessioned	2014-12-13T10:33:27Z	-
dc.date.available	2014-12-13T10:33:27Z	-
dc.date.issued	2003	en_US
dc.identifier.govdoc	NSC92-2215-E009-052	zh_TW
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/11536/92070	-
dc.identifier.uri	https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=873518&docId=167349	en_US
dc.description.sponsorship	行政院國家科學委員會	zh_TW
dc.language.iso	zh_TW	en_US
dc.title	以干涉相位測量法探討對掌物質的特性及其相關應用(I)	zh_TW
dc.title	Studies on the Characteristics of Chiral Materials with Interferometric Phase Measurement Techniques and Associated Applications (I)	en_US
dc.type	Plan	en_US
dc.contributor.department	國立交通大學光電工程研究所	zh_TW
顯示於類別：	研究計畫

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