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dc.contributor.author李崇仁en_US
dc.date.accessioned2014-12-13T10:35:58Z-
dc.date.available2014-12-13T10:35:58Z-
dc.date.issued2001en_US
dc.identifier.govdocNSC90-2215-E009-084zh_TW
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/93688-
dc.identifier.urihttps://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=665767&docId=126390en_US
dc.description.sponsorship行政院國家科學委員會zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject系統晶片zh_TW
dc.subject晶片設計zh_TW
dc.subject測試技術zh_TW
dc.subjectSystem-on-chip (SOC)en_US
dc.subjectChip designen_US
dc.subjectTest techniqueen_US
dc.title對以智財單元為基系統晶片設計之驗證與測試技術開發研究---子計畫IV:以智財單元為基系統晶片設計之測試技術研究zh_TW
dc.titleTesting Technology Development for IP-Based SoC Designen_US
dc.typePlanen_US
dc.contributor.department交通大學電子工程系zh_TW
顯示於類別:研究計畫


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