去除次微米微粒之文式洗滌器之基礎研究(III)

標題:	去除次微米微粒之文式洗滌器之基礎研究(III) Fundamental Study of Venturi Scrubber for Submicron Particle Removal(III)
作者:	蔡春進 Chuen-Jinn Tsai 國立交通大學環境工程研究所
關鍵字:	去除;文氏洗滌器;次微米微粒;流體力學;Removal;Venturi scrubber;Submicron particle;Fluid mechanics
公開日期:	2001
官方說明文件#:	NSC90-2211-E009-027
URI:	http://hdl.handle.net/11536/94510 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=628561&docId=117036
顯示於類別：	研究計畫

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