完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
---|---|---|
dc.contributor.author | 張俊彥 | en_US |
dc.contributor.author | CHANG CHUN-YEN | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-13T10:38:40Z | - |
dc.date.available | 2014-12-13T10:38:40Z | - |
dc.date.issued | 1997 | en_US |
dc.identifier.govdoc | NSC86-2215-E009-019 | zh_TW |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/95594 | - |
dc.identifier.uri | https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=278889&docId=50218 | en_US |
dc.description.abstract | 本整合計畫將以三年的時間,研究探討Si及SiGe磊晶層之成長機制,摻雜特性。SiGe之材料及物理特性,包括成長Si/ SiGe量子井(QuantumnWell)及超晶格(Super-lattice)等結構材料,並藉由SIMS、X-Ray Diffraction、 RBS、TEM 、SEM、 AFM及FTIR等儀器分析材料及物理特性.以此為基礎,我們將研製短通道 Si及SiGeMOSFET元件和異質接面雙極性電晶體HBT。最後,我仍將分析SiGe MOSFET和SiGeHBT的直流高頻特性,並與SiMOSFET和BJT作比較,以驗證矽鍺材料的物理特性及其在半導體元件物理應用的潛力。經由此計畫的進行,我們將能夠對於Si/SiGe磊晶層,從成長、材料特性、物理特性、量測技術、元件製作、到電路的應用,有一完整的研究。對於未來 Si/SiGe材料的發展有很重大的意義。 | zh_TW |
dc.description.sponsorship | 行政院國家科學委員會 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 矽 | zh_TW |
dc.subject | 矽鍺 | zh_TW |
dc.subject | 量子井 | zh_TW |
dc.subject | 超晶格 | zh_TW |
dc.subject | 混成微波積體電路 | zh_TW |
dc.subject | Si | en_US |
dc.subject | SiGe | en_US |
dc.subject | Quantum well | en_US |
dc.subject | Super lattice | en_US |
dc.subject | Hybrid microwave IC | en_US |
dc.title | 矽與矽鍺材料及元件之發展---總計畫 | zh_TW |
dc.title | The Development of Si/SiGe Material and Devices | en_US |
dc.type | Plan | en_US |
dc.contributor.department | 交通大學電子工程研究所 | zh_TW |
顯示於類別: | 研究計畫 |