| 標題: | 非線性光學材料之線性光學特性之測量 Measurement on Optical Properties of Nonlinear Optical Materials by Ellipsometric Technique |
| 作者: | 趙于飛 國立交通大學光電工程研究所 |
| 關鍵字: | 橢圓儀;光譜儀;折射率;Ellipsometry;Spectrometry;Refractive index |
| 公開日期: | 1996 |
| 官方說明文件#: | NSC85-2112-M009-041 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/95823 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=235866&docId=43417 |
| 顯示於類別： | 研究計畫 |
- 凝態非線性材料之結構及其光學特性之研究---子計畫IV：橢圓常數之量測及其與晶軸之關係：AgGaS/sub 2/(II) / 趙于飛
- 橢圓偏光儀中光學參數之判定 / 陳坤聰;Chen, Kun-Tsung;趙于飛;Y.F. Chao
- 利用光彈調制橢圓偏光儀量測楔角 / 徐舜威;Shang-wei Shi;趙于飛;Y. F. Chao
- 光彈調變式橢圓偏光儀對各向異性材料的動態量測 / 莊俊逸;Chuang, Chun-I;趙于飛;林烜輝;Chao, Yu-Faye
- 預測單軸異向性介質的橢圓偏極參數 / 寇人傑;Ko, Zen-Chieh;趙于飛;Y.F. Chao
- 凝態非線性晶體之結構及其光學特性之研究---子計畫五：橢圓儀在異向晶體之應用(III) / 趙于飛
- PSA簡式橢圓儀 / 李文智;Lee Wun-Chih;趙于飛;Dr. Y.F. Chao
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