标题: 多晶片模組設計自動化與測試系統---子計畫四:多晶片模組可測性設計
Design for Testability and Diagnosis in Multichip Modules
作者: 郭斯彥
KUO SY-YEN
國立台灣大學電機工程學研究所
公开日期: 1994
官方说明文件#: NSC83-0404-E002-058
URI: http://hdl.handle.net/11536/97246
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=109856&docId=17488
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