标题: 多晶片模组设计自动化与测试系统---子计画四:多晶片模组可测性设计
Design for Testability and Diagnosis in Multichip Modules
作者: 郭斯彦
KUO SY-YEN
国立台湾大学电机工程学研究所
公开日期: 1994
官方说明文件#: NSC83-0404-E002-058
URI: http://hdl.handle.net/11536/97246
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=109856&docId=17488
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