标题: | 多晶片模组设计自动化与测试系统---子计画四:多晶片模组可测性设计 Design for Testability and Diagnosis in Multichip Modules |
作者: | 郭斯彦 KUO SY-YEN 国立台湾大学电机工程学研究所 |
公开日期: | 1994 |
官方说明文件#: | NSC83-0404-E002-058 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/97246 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=109856&docId=17488 |
显示于类别: | Research Plans |