超薄氧化層高等可靠性物理暨次世代快閃式記憶體之前瞻性研究

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Keywords

超薄氧化層 , 可靠性物理 , 快閃記憶體 , Ultrathin oxide , Reliability physics , Flash memory

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=682105&docId=130199
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/95765

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研究計畫;;Research Plans