奈米隨機存取記憶體的長時間可靠度劣化現象分析與可容忍此劣化現象之設計

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982221E009112.PDF (1.81 MB)

Date

Authors

Chuang Ching-Te

URI

https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1904632&docId=315640
https://ir.lib.nycu.edu.tw/handle/11536/101736

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研究計畫;;Research Plans