P通道快閃式記憶元件在長時間寫入抹除後由熱載子導致的可靠性問題研究
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快閃式記憶體 , 熱載子 , 可靠度 , 氧化層 , 耐久性 , 擾動 , Flash memory , Hot carrier , Reliability , Oxided layer , Endurance , Disturbance