標題: | P通道快閃式記憶元件在長時間寫入抹除後由熱載子導致的可靠性問題研究 Hot Carrier Induced Reliability Issues in P-channel Flash Memory after Long Term P/E Cycles |
作者: | 莊紹勳 Chung Steve S 交通大學電子工程系 |
關鍵字: | 快閃式記憶體;熱載子;可靠度;氧化層;耐久性;擾動;Flash memory;Hot carrier;Reliability;Oxided layer;Endurance;Disturbance |
公開日期: | 1999 |
官方說明文件#: | NSC88-2215-E009-040 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/94338 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=418050&docId=74155 |
顯示於類別: | 研究計畫 |