後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究---子計畫三：角落錯誤之矽除錯(III)
Loading...
Date
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
DOI
Abstract
Description
Keywords
除錯 , 矽除錯 , 可偵錯度 , 角落錯誤 , 錯誤區域辨識 , 錯誤候選邏輯閘排序 , 錯誤診斷架構 , 聚焦離子束 , 版圖調整 , 可移動訊號候選排序 , Debug , Silicon debug , Diagnosibility , Hard-corner errors , Faulty-region identification , Fault-candidate ranking , Fault diagnosis architecture , Focused-ion-beam , Layout adjustment , moving-signal candidate ranking