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公開日期標題作者
1-七月-2001Comparative study of Schottky diode characteristics in Ni, Ta and Ni/Ta metal contact schemes on n-GaNChen, GL; Chang, FC; Chuang, WC; Chung, HM; Shen, KC; Chen, WH; Lee, MC; Chen, NK; 電子物理學系; Department of Electrophysics
1-十月-2015Direct Evidence of the Overshoot Suppression in Ta2O5-Based Resistive Switching Memory With an Integrated Access ResistorFan, Yang-Shun; Zhang, Leqi; Crotti, Davide; Witters, Thomas; Jurczak, Malgorzata; Govoreanu, Bogdan; 光電工程學系; Department of Photonics
1-三月-2014A precise pH microsensor using RF-sputtering IrO2 and Ta2O5 films on Pt-electrodeKuo, Li-Min; Chou, Yi-Chia; Chen, Kuan-Neng; Lu, Chien-Chia; Chao, Shuchi; 電子物理學系; 電子工程學系及電子研究所; Department of Electrophysics; Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2006Ta2O5 閘極介電層特性及尺寸效應所造成的MIS 電容邊際漏電流何家琦; 張國明; 電機學院電子與光電學程
1996以溶凝膠法製備五氧化二鉭薄膜曾心誼; Tseng, Shin-Yi; 謝宗雍; T.E.Hsieh; 材料科學與工程學系
1996化學氣相沉積氧化鉭和氧化鈦薄膜在高密度動態隨機存取記憶體上儲存電容器之研究陳再富; Chen, Tsai-Fu; 蘇翔, 孫喜眾; Shyang Su, Shi-Chung Sun; 電子研究所
1998快速加熱低壓化學氣相沈積氧化鉭薄膜之製備與電性黃蘭婷; Lan-Ting Huang; 曾俊元; Tseung-Yuen Tseng; 電子研究所
1999快速加熱低壓化學氣相沈積氧化鉭薄膜電容的底電極材料分析姜健偉; Jian-Wei Jiang; 曾俊元; Tseung-Yuen Tseng; 電子研究所
2007改良型五氧化二鉭與氧化銥薄膜氫離子感測電極之研究陳昭廷; Chao-Ting Chen; 趙書琦; Shu-Chi Chao; 電子物理系所
1996氧化鉭在超薄疊層介電質之應用與以電漿退火降低漏電流之研究黃以理; Huang, Yi-Lee; 孫喜眾; Shi-Chung Sun; 電子研究所
2004氧化銥/五氧化二鉭電位式二氧化碳感測器抗干擾之研究鍾秉霖; Bin-Lin Chung; 趙書琦; Dr.Shuchi Chao; 電子物理系所
2006氫離子感測電極的電化學機制及五氧化二鉭與氧化銥薄膜之研究呂健嘉; Chien-Chia Lu; 趙書琦; Shu-Chi Chao; 電子物理系所
1999超薄氧化鉭Ta2O5介電薄膜研究吳子嘉; Tzu-Chia Wu; 林 鵬; Pang Lin; 材料科學與工程學系
2004高介電常數介電層在金氧半元件及動態隨機存取記憶體上之特性研究張祐慈; Yu-Tzu Chang; 羅正忠; Jen-Chung Lou; 電子研究所
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