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公開日期標題作者
1-十一月-2004Algorithms for the wafer probing scheduling problem with sequence-dependent set-up time and due date restrictionsPearn, WL; Chung, SH; Yang, MH; Chen, YH; 交大名義發表; National Chiao Tung University
1-十一月-2006Application of an ordinal optimization algorithm to the wafer testing processLin, Shin-Yeu; Horng, Shih-Cheng; 電控工程研究所; Institute of Electrical and Control Engineering
1-一月-2002A case study on the wafer probing scheduling problemPearn, WL; Chung, SH; Yang, MH; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
1-八月-2002The wafer probing scheduling problem (WPSP)Pearn, WL; Chung, SH; Yang, MH; 工業工程與管理學系; Department of Industrial Engineering and Management
2005台灣晶圓測試產業競爭策略之研究-以A 公司為例黃正宗; 李經遠; 管理學院管理科學學程
2002多階段再回流晶圓針測排程問題之整合性解法蕭冠鵬; Kuan-Peng Hsiao; 彭文理; 鍾淑馨; Wen-Lea Pearn; Shu-Hsing Chung; 工業工程與管理學系
2003應用改善式啟發解與基因演算法求解晶圓針測排程問題之最大完成時間最小化蔡育燐; Yu-Lin Tsai; 彭文理; 楊明賢; Wen-Lea Pearn; Ming-Hsien Yang; 工業工程與管理學系
2002整合晶圓製造與針測流程之生產規劃系統建構李瓊瑛; Chiung-Ying Lee; 鍾淑馨; Dr. Shu-Hsing Chung; 工業工程與管理學系
2001晶圓廠針測區多工單等級生產規劃系統之設計羅湘君; Hsiang-Chun Lo; 鍾淑馨; 彭文理; Dr. Shu-Hsing Chung; Dr. Wen-Lea Pearn; 工業工程與管理學系
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