瀏覽 的方式： 作者 謝易叡
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
|---|---|---|
| 2007 | 一種改良的介面缺陷之橫向剖面分析應用於奈米級應變矽CMOS元件之可靠度探討 | 謝易叡; E Ray Hsieh; 莊紹勳; Steve S. Chung; 電子研究所 |
| 2016 | 三維電晶體由製程與長時間操作導致電特性變異 之多面向探討 | 謝易叡; 莊紹勳; Hsieh, E-Ray; Chung, Steve; 電子工程學系 電子研究所 |
| 16-三月-2017 | 介電質熔絲型記憶電路及其操作方法 | 莊紹勳; 謝易叡; 黃智宏 |
| 11-一月-2014 | 使用無源極和汲極接面場效電晶體之基本互補式邏輯閘之構造及其製造方法 | 莊紹勳; 謝易叡 |
| 1-六月-2012 | 使用無源極和汲極接面場效電晶體之基本互補式邏輯閘之構造及其製造方法 | 莊紹勳; 謝易叡 |
| 1-八月-2017 | 半導體裝置結構 | 莊紹勳; 謝易叡; 林宜憲 |
| 16-六月-2017 | 半導體裝置結構 | 莊紹勳; 謝易叡; 趙堉斌; 潘正聖 |
| 16-十月-2018 | 非揮發性記憶體及其操作方法 | 莊紹勳; 謝易叡 |
| 1-二月-2016 | 非揮發性電阻式記憶體及其操作 | 莊紹勳; 謝易叡 |