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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Chang, Han-Tung
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顯示 1 到 7 筆資料,總共 7 筆
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標題
作者
1-一月-2014
Device Simulation of P-InAlN-Gate AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistor
Shrestha, Niraj Man
;
Lin, Yueh-Chin
;
Chang, Han-Tung
;
Li, Yiming
;
Chang, Edward Yi
;
材料科學與工程學系
;
Department of Materials Science and Engineering
1-一月-2013
On Characteristic Variability of 16-nm-Gate Bulk FinFET Devices Induced by Intrinsic Parameter Fluctuation and Process Variation Effect
Chen, Chieh-Yang
;
Li, Yiming
;
Chen, Yu-Yu
;
Chang, Han-Tung
;
Hsu, Sheng-Chia
;
Huang, Wen-Tsung
;
Yang, Chin-Min
;
Chen, Li-Wen
;
資訊工程學系
;
Department of Computer Science
2012
On Statistical Variation of MOSFETs Induced by Random-Discrete-Dopants and Random-Interface-Traps
Li, Yiming
;
Su, Hsin-Wen
;
Chen, Chieh-Yang
;
Cheng, Hui-Wen
;
Chen, Yu-Yu
;
Chang, Han-Tung
;
資訊工程學系
;
Department of Computer Science
2015
Process Variation Effect, Metal-Gate Work-Function Fluctuation and Random Dopant Fluctuation of 10-nm Gate-All-Around Silicon Nanowire MOSFET Devices
Li, Yiming
;
Chang, Han-Tung
;
Lai, Chun-Ning
;
Chao, Pei-Jung
;
Chen, Chieh-Yang
;
交大名義發表
;
傳播研究所
;
分子醫學與生物工程研究所
;
電機學院
;
National Chiao Tung University
;
Institute of Communication Studies
;
Institute of Molecular Medicine and Bioengineering
;
College of Electrical and Computer Engineering
2012
Random Work Function Induced DC Characteristic Fluctuation in 16-nm High-kappa/Metal Gate Bulk and SOI FinFETs
Su, Hsin-Wen
;
Chen, Yu-Yu
;
Chen, Chieh-Yang
;
Cheng, Hui-Wen
;
Chang, Han-Tung
;
Li, Yiming
;
電機工程學系
;
Department of Electrical and Computer Engineering
2016
Statistical Device Simulation of Characteristic Fluctuation of 10-nm Gate-All-Around Silicon Nanowire MOSFETs Induced by Various Discrete Random Dopants
Sung, Wen-Li
;
Chang, Han-Tung
;
Chen, Chieh-Yang
;
Chao, Pei-Jung
;
Li, Yiming
;
分子醫學與生物工程研究所
;
電機工程學系
;
電信工程研究所
;
Institute of Molecular Medicine and Bioengineering
;
Department of Electrical and Computer Engineering
;
Institute of Communications Engineering
1-一月-2013
Statistical Device Simulation of Intrinsic Parameter Fluctuation in 16-nm-Gate N- and P-type Bulk FinFETs
Chen, Yu-Yu
;
Huang, Wen-Tsung
;
Hsu, Sheng-Chia
;
Chang, Han-Tung
;
Chen, Chieh-Yang
;
Yang, Chin-Min
;
Chen, Li-Wen
;
Li, Yiming
;
資訊工程學系
;
Department of Computer Science