Skip navigation
瀏覽
學術出版
教師專書
期刊論文
會議論文
研究計畫
畢業論文
專利資料
技術報告
數位教材
開放式課程
專題作品
喀報
交大建築展
明竹
活動紀錄
圖書館週
研究攻略營
畢業典禮
開學典禮
數位典藏
楊英風數位美術館
詩人管管數位典藏
歷史新聞
交大 e-News
交大友聲雜誌
陽明交大電子報
陽明交大英文電子報
陽明電子報
校內出版品
交大出版社
交大法學評論
管理與系統
新客家人群像
全球客家研究
犢:傳播與科技
資訊社會研究
交大資訊人
交大管理學報
數理人文
交大學刊
交通大學學報
交大青年
交大體育學刊
陽明神農坡彙訊
校務大數據研究中心電子報
人間思想
文化研究
萌牙會訊
Inter-Asia Cultural Studies
醫學院年報
醫學院季刊
陽明交大藥學系刊
永續發展成果年報
Open House
畢業紀念冊
畢業紀念冊
項目
公開日期
作者
標題
關鍵字
研究人員
English
繁體
简体
目前位置:
國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Chien, CH
跳到:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
或是輸入前幾個字:
排序方式:
標題
公開日期
上傳日期
排序方式:
升冪排序
降冪排序
結果/頁面
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
作者/紀錄:
全部
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
顯示 1 到 20 筆資料,總共 72 筆
下一頁 >
公開日期
標題
作者
2005
2-bit poly-Si-TFT nonvolatile memory using hafnium oxide, hafnium silicate and zirconium silicate
Lin, YH
;
Chien, CH
;
Chou, TH
;
Chao, TS
;
Chang, CY
;
Lei, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2006
Annealing temperature effect on the performance of nonvolatile HfO2Si-oxide-nitride-oxide-silicon-type flash memory
Lin, YH
;
Chien, CH
;
Chang, CY
;
Lei, TF
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
15-八月-2005
Bis(2,2-diphenylvinyl)spirobifluorene: An efficient and stable blue emitter for electroluminescence applications
Wu, FI
;
Shu, CF
;
Wang, TT
;
Diau, EWG
;
Chien, CH
;
Chuen, CH
;
Tao, Y
;
應用化學系
;
Department of Applied Chemistry
1999
Breakdown characteristics of ultra-thin gate oxides caused by plasma charging
Chen, CC
;
Lin, HC
;
Chang, CY
;
Chien, CH
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
18-十月-2004
The characteristics of hole trapping in HfO2/SiO2 gate dielectrics with TiN gate electrode
Lu, WT
;
Lin, PC
;
Huang, TY
;
Chien, CH
;
Yang, MJ
;
Huang, IJ
;
Lehnen, P
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2005
Characteristics of the inter-poly Al(2)O(3) dielectrics on NH(3)-nitrided bottom poly-si for next-generation flash memories
Chen, YY
;
Chien, CH
;
Lou, JC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-四月-2005
Characteristics of the inter-poly Al2O3 dielectrics on NH3-nitrided bottom poly-si for next-generation flash memories
Chen, YY
;
Chien, CH
;
Lou, JC
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
15-八月-1996
Characterization of antenna effect by nondestructive gate current measurement
Lin, HC
;
Chien, CH
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
15-八月-1996
Characterization of antenna effect by nondestructive gate current measurement
Lin, HC
;
Chien, CH
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十二月-1999
The combined effects of nitrogen implantation at S/D extension and N2O oxide on 0.18 mu m N- and P-metal oxide field effect transistors (MOSFETs)
Chao, TS
;
Chang, SJ
;
Chien, CH
;
Lin, HC
;
Huang, TY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
Deep sub-micron strained Si0.85Ge0.15 channel p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors (pMOSFETs) with ultra-thin N2O-annealed SiN gate dielectric
Chen, CW
;
Chien, CH
;
Chen, YC
;
Hsu, SL
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十二月-2001
The effects of low-pressure rapid thermal post-annealing on the properties of (Ba,Sr)TiO3 thin films deposited by liquid source misted chemical deposition
Yang, MJ
;
Chien, CH
;
Leu, CC
;
Zhang, RJ
;
Wu, SC
;
Huang, TY
;
Tseng, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
Effects of low-temperature NH3 treatment on the characteristics of HfO2/SiO2 gate stack
Lu, WT
;
Chien, CH
;
Huang, IJ
;
Yang, MJ
;
Lehnen, P
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-二月-2000
Effects of polysilicon gate doping concentration on plasma charging damage in ultrathin gate oxides
Chen, CC
;
Lin, HC
;
Chang, CY
;
Huang, TY
;
Chien, CH
;
Liang, MS
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2006
Effects of postdeposition annealing on the characteristics of HfOxNy dielectrics on germanium and silicon substrates
Cheng, CC
;
Chien, CH
;
Chen, CW
;
Hsu, SL
;
Yang, CH
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
15-一月-1999
The effects of shallow germanium halo doping on N-channel metal oxide semiconductor field effect transistors
Wang, MF
;
Chien, CH
;
Chao, TS
;
Lin, HC
;
Jong, FC
;
Huang, TY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-十一月-2004
Efficient sub-nanosecond intracavity optical parametric oscillator pumped with a passively Q-switched Nd : GdVO4 laser
Chen, YF
;
Chen, SW
;
Tsai, LY
;
Chen, YC
;
Chien, CH
;
電子物理學系
;
Department of Electrophysics
1-九月-2001
Electrical characteristics of thin cerium oxide film on silicon substrate by reactive DC sputtering
Pan, TM
;
Chien, CH
;
Lei, TF
;
Chao, TS
;
Huang, TY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2005
Electrical characteristics of thin HfO(2) gate dielectrics prepared using different pre-deposition surface treatments
Chen, CW
;
Chien, CH
;
Perng, TH
;
Yang, MJ
;
Liang, JS
;
Lehnen, P
;
Tsui, BY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2005
Electrical characteristics of thin HfO2 gate dielectrics prepared using different pre-deposition surface treatments
Chen, CW
;
Chien, CH
;
Perng, TH
;
Yang, MJ
;
Liang, JS
;
Lehnen, P
;
Tsui, BY
;
Chang, CY
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics