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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Liu, Rich
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顯示 1 到 10 筆資料,總共 10 筆
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標題
作者
2007
A 2-bit/cell, maskless, self-aligned resistance memory with high thermal stability
He, ChiaHua
;
Lee, Ming-Daou
;
Pan, Chen-Ling
;
Lai, Erb-Kun
;
Yao, Yeong-Der
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
材料科學與工程學系
;
Department of Materials Science and Engineering
2008
Highly reliable MA BE-SONOS (Metal-Al2O3 bandgap engineered SONOS) using a SiO2 buffer layer
Lai, Sheng-Chih
;
Lue, Hang-Ting
;
Liao, Chien-Wei
;
Wu, Tai-Bor
;
Yang, Ming-Jui
;
Lue, Yi-Hsien
;
Hsieh, Jung-Yu
;
Wang, Szu-Yu
;
Luo, Guang-Li
;
Chien, Chao-Hsin
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
物理研究所
;
奈米中心
;
Institute of Physics
;
Nano Facility Center
1-一月-2007
A highly reliable self-aligned graded oxide WOx resistance memory: Conduction mechanisms and reliability
Ho, ChiaHua
;
Lai, E. K.
;
Lee, M. D.
;
Pan, C. L.
;
Yao, Y. D.
;
Hsieh, K. Y.
;
Liu, Rich
;
Lu, C. Y.
;
材料科學與工程學系
;
Department of Materials Science and Engineering
2008
An oxide-buffered BE-MANOS charge-trapping device and the role of Al2O3
Lai, Sheng-Chih
;
Lue, Hang-Ting
;
Liao, Chien-Wei
;
Huang, Yu-Fong
;
Yang, Ming-Jui
;
Lue, Yi-Hsien
;
Wu, Tai-Bor
;
Hsieh, Jung-Yu
;
Wang, Szu-Yu
;
Hong, Shih-Ping
;
Hsu, Fang-Hao
;
Shen, Chih-Yen
;
Luo, Guang-Li
;
Chien, Chao-Hsin
;
Hsieh, Kuan-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
物理研究所
;
Institute of Physics
1-四月-2009
Pulse-IV Characterization of Charge-Transient Behavior of SONOS-Type Devices With or Without a Thin Tunnel Oxide
Du, Pei-Ying
;
Lue, Hang-Ting
;
Wang, Szu-Yu
;
Huang, Tiaci-Yuan
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2009
Reliability Study of MANOS with and without a SiO2 Buffer Layer and BE-MANOS Charge-Trapping NAND Flash Devices
Liao, Chien-Wei
;
Lai, Sheng-Chih
;
Lue, Hang-Ting
;
Yang, Ming-Jui
;
Shen, Chin-Yen
;
Lue, Yi-Hsien
;
Huang, Yu-Fong
;
Hsieh, Jung-Yu
;
Wang, Szu-Yu
;
Luo, Guang-Li
;
Chien, Chao-Hsin
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
電機學院
;
College of Electrical and Computer Engineering
2009
STUDY OF GATE-INJECTION OPERATED SONOS-TYPE DEVICES USING THE GATE-SENSING AND CHANNEL-SENSING (GSCS) METHOD
Du, Pei-Ying
;
Lue, Hang-Ting
;
Wang, Szu-Yu
;
Huang, Tiao-Yuan
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-八月-2008
A study of gate-sensing and channel-sensing (GSCS) transient analysis method - Part II: Study of the intra-nitride behaviors and reliability of SONOS-type devices
Du, Pei-Ying
;
Lue, Hang-Ting
;
Wang, Szu-Yu
;
Huang, Tiao-Yuan
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-九月-2007
Study of the gate-sensing and channel-sensing transient analysis method for monitoring the charge vertical location of SONOS-type devices
Du, Pei-Ying
;
Lue, Hang-Ting
;
Wang, Szu-Yu
;
Lai, Erh-Kun
;
Huang, Tiao-Yuan
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2010
Tungsten Oxide Resistive Memory Using Rapid Thermal Oxidation of Tungsten Plugs
Lai, Erh-Kun
;
Chien, Wei-Chih
;
Chen, Yi-Chou
;
Hong, Tian-Jue
;
Lin, Yu-Yu
;
Chang, Kuo-Pin
;
Yao, Yeong-Der
;
Lin, Pang
;
Horng, Sheng-Fu
;
Gong, Jeng
;
Tsai, Shih-Chang
;
Lee, Ching-Hsiung
;
Hsieh, Sheng-Hui
;
Chen, Chun-Fu
;
Shih, Yen-Hao
;
Hsieh, Kuang-Yeu
;
Liu, Rich
;
Lu, Chih-Yuan
;
材料科學與工程學系
;
Department of Materials Science and Engineering