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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Sun, SW
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顯示 1 到 7 筆資料,總共 7 筆
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標題
作者
2004
Comparison of oxide breakdown progression in ultra-thin oxide SOI and bulk pMOSFETs
Chan, CT
;
Kuo, CH
;
Tang, CJ
;
Chen, MC
;
Wang, TH
;
Lu, SH
;
Hu, HC
;
Chen, TF
;
Yang, CK
;
Lee, MT
;
Wu, DY
;
Chen, JK
;
Chien, SC
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2004
Low leakage reliability characterization methodology for advanced CMOS with gate oxide in the 1nm range
Chung, SS
;
Feng, HJ
;
Hsieh, YS
;
Liu, A
;
Lin, WM
;
Chen, DF
;
Ho, JH
;
Huang, KT
;
Yang, CK
;
Cheng, O
;
Sheng, YC
;
Wu, DY
;
Shiau, WT
;
Chien, SC
;
Liao, K
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2003
Negative substrate bias enhanced breakdown hardness in ultra-thin oxide pMOSFETs
Wang, TH
;
Tsai, CW
;
Chen, MC
;
Chan, CT
;
Chiang, HK
;
Lu, SH
;
Hu, HC
;
Chen, TF
;
Yang, CK
;
Lee, MT
;
Wu, DY
;
Chen, JK
;
Chien, SC
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
A new insight into the degradation mechanisms of various mobility-enhanced CMOS devices with different substrate engineering
Chung, SS
;
Liu, YR
;
Wu, SJ
;
Lai, CS
;
Liu, YC
;
Chen, DF
;
Lin, HS
;
Shiau, WT
;
Tsai, CT
;
Chien, SC
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2005
A new observation of the germanium outdiffusion effect on the hot carrier and NBTI reliabilities in sub-100nm technology strained-Si/SiGe CMOS devices
Chung, SS
;
Liu, YR
;
Yeh, CF
;
Wu, SR
;
Lai, CS
;
Chang, TY
;
Ho, JH
;
Liu, CY
;
Huang, CT
;
Tsai, CT
;
Shiau, WT
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1998
Novel input ESD protection circuit with substrate-triggering technique in a 0.25-mu m shallow-trench-isolation CMOS technology
Ker, MD
;
Chen, TY
;
Wu, CY
;
Tang, H
;
Su, KC
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-三月-2000
Shallow-trench isolation with raised-field-oxide structure
Chen, CM
;
Chang, CY
;
Chou, JW
;
Lur, W
;
Sun, SW
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics