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國立陽明交通大學機構典藏
瀏覽 的方式: 作者 Tsai, Hui-Wen
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顯示 1 到 11 筆資料,總共 11 筆
公開日期
標題
作者
1-十二月-2014
Active Guard Ring to Improve Latch-Up Immunity
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2013
Analysis and Solution to Overcome EOS Failure Induced by Latchup Test in A High-Voltage Integrated Circuits
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
Liu, Yi-Sheng
;
Chuang, Ming-Nan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2013
Analysis and Solution to Overcome EOS Failure Induced by Latchup Test in A High-Voltage Integrated Circuits
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
Liu, Yi-Sheng
;
Chuang, Ming-Nan
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2015
Compensation Circuit with Additional Junction Sensor to Enhance Latchup Immunity for CMOS Integrated Circuits
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2007
Design of 2xVDD-tolerant I/O buffer with considerations of gate-oxide reliability and hot-carrier degradation
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電機學院
;
College of Electrical and Computer Engineering
1-一月-2010
Design of 2xVDD-tolerant mixed-voltage I/O buffer against gate-oxide reliability and hot-carrier degradation
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-五月-2011
Design to suppress return-back leakage current of charge pump circuit in low-voltage CMOS process
Weng, Yi-Hsin
;
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電機學院
;
College of Electrical and Computer Engineering
2015
Improve Latch-up Immunity by Circuit Solution
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-六月-2015
Latch-Up Protection Design With Corresponding Complementary Current to Suppress the Effect of External Current Triggers
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-三月-2014
Layout Consideration and Circuit Solution to Prevent EOS Failure Induced by Latchup Test in a High-Voltage Integrated Circuits
Tsai, Hui-Wen
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2015
提升積體電路栓鎖防疫能力之設計方法與實現
蔡惠雯
;
Tsai, Hui-Wen
;
柯明道
;
Ker, Ming-Dou
;
電子工程學系 電子研究所