標題: | 化合物半導體元件之銅金屬化之歐姆接觸電極 |
作者: | 李承士 張翼 陳克弦 |
公開日期: | 16-七月-2007 |
摘要: | 一種化合物半導體元件之銅金屬化之歐姆接觸電極,經過電子束蒸鍍沈積鈀(Pd)層、鍺(Ge)層及銅(Cu)層於化合物半導體元件上所組成,接著利用浮離製程(Lift-off)去除多餘之金屬及光阻,最後進行快速高溫退火過程而形成歐姆接觸電極。其中低電阻値之歐姆接觸電極係利用調整鈀層、鍺層及銅層之厚度及配合退火溫度而形成,可應用於銅金屬化製程,有效增加化合物半導體元件的散熱特性,且使生產成本降低。 |
官方說明文件#: | H01L029/47 H01L021/285 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/104070 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | 200727470 |
顯示於類別: | 專利資料 |