標題: | 全晶片上寬工作電壓溫度製程電壓的感測系統 |
作者: | 陳璽文 張銘宏 謝維致 黃威 |
公開日期: | 11-一月-2014 |
摘要: | 本發明提供一種全晶片上寬工作電壓溫度製程電壓的感測系統,其係設置於一晶片上,該感測系統包含:一電壓感測裝置、一製程感測裝置、及一溫度感測裝置。其中,溫度感測裝置包含:一偏壓電流產生器、一環形振盪器、一固定脈衝產生器、一及閘、及一第一計數器。偏壓電流產生器依據晶片之工作電壓,而產生一與溫度相關之輸出電流。環形振盪器由輸出電流而產生一振盪訊號,固定脈衝產生器產生固定寬度之一脈衝訊號。第一及閘連接至環形振盪器及固定脈衝產生器,以對振盪訊號及脈衝訊號執行邏輯及運算,以產生一溫度感測訊號。 |
官方說明文件#: | G01R031/303 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/104409 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | I422847 |
顯示於類別: | 專利資料 |