於類比測試中可接收數位測試激發訊號之可重新規劃切換電容輸入電路

Abstract

本發明提出一種於類比測試中可接收數位測試激發訊號之可重新規劃切換電容輸入電路，係以電容、類比開關及數位電路作為數位輸入介面來測試混合訊號電路，因此可利用價格便宜的數位測試平台完成電路測試，解決傳統上需要使用高成本的混合模式測試機台和極嚴苛的測試環境條件的問題，因而改善可測性及降低測試成本，從而加速設計流程及縮短產品上市時間的限制。