標題: 鐵電場效電晶體製造方法
作者: 陳三元
孫嘉良
荊鳳德
公開日期: 21-九月-2003
摘要: 本案係指一種鐵電場效電晶體製造方法,其係應用於金屬/鐵電薄膜/絕緣層/半導體(MFIS)結構的閘極電容元件製作上,該方法乃藉由在該絕緣層上沈積一鉍系鐵電薄膜,並經由一高溫熱處理後,再鍍上一上電極層於該鉍系鐵電薄膜上,俾得致該鐵電場效電晶體結構。
官方說明文件#: H01L027/13
H01L027/13
URI: http://hdl.handle.net/11536/106457
專利國: TWN
專利號碼: 00554524
顯示於類別:專利資料


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