應用於深次20奈米快閃記憶體之錯誤處理方法

Title:	應用於深次20奈米快閃記憶體之錯誤處理方法 Advance Error Handling for Deep Sub-20nm NAND Flash Memory
Authors:	林緯 Lin Wei 張俊彥 Chang,Chun-Yen 電子工程學系電子研究所
Keywords:	快閃記憶體;數位訊號處理;錯誤更正碼;NAND Flash Memory;DSP;ECC
Issue Date:	2015
URI:	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079811562 http://hdl.handle.net/11536/127333
Appears in Collections:	Thesis