應用於多階儲存單元快閃記憶體之系統可靠度改善方法

標題:	應用於多階儲存單元快閃記憶體之系統可靠度改善方法 The System Reliability Extending for Multi-Level per Cell NAND Flash Memory
作者:	許祐誠 Hsu, Yu-Cheng 張俊彥 Chang, Chun-Yen 電子工程學系電子研究所
關鍵字:	快閃記憶體;多階儲存單元;系統可靠度;System Reliability;Multi-Level per Cell;NAND Flash Memory
公開日期:	2015
URI:	http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079811546 http://hdl.handle.net/11536/127341
顯示於類別：	畢業論文