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標題: 應用於深次20奈米快閃記憶體之錯誤處理方法
Advance Error Handling for Deep Sub-20nm NAND Flash Memory
作者: 林緯
Lin Wei
張俊彥
Chang,Chun-Yen
電子工程學系 電子研究所
關鍵字: 快閃記憶體;數位訊號處理;錯誤更正碼;NAND Flash Memory;DSP;ECC
公開日期: 2015
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079811562
http://hdl.handle.net/11536/127333
Appears in Collections:Thesis


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