| 標題: | 應用於深次20奈米快閃記憶體之錯誤處理方法 Advance Error Handling for Deep Sub-20nm NAND Flash Memory |
| 作者: | 林緯 Lin Wei 張俊彥 Chang,Chun-Yen 電子工程學系 電子研究所 |
| 關鍵字: | 快閃記憶體;數位訊號處理;錯誤更正碼;NAND Flash Memory;DSP;ECC |
| 公開日期: | 2015 |
| URI: | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#GT079811562 http://hdl.handle.net/11536/127333 |
| 顯示於類別： | 畢業論文 |
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