標題: | 用於擴散式光學斷層掃描之控制感測系統及其運作方法 |
作者: | 方偉騏 陳殿河 康適 吳世揚 鄭敬儒 |
公開日期: | 21-May-2015 |
摘要: | 1.一種用於擴散式光學斷層掃描之控制感測系統,係包括:控制單元,係用以發出控制命令;以及感測電路,係電性連接至該控制單元,該感測電路包括:複數個光源,係用以根據該控制命令,分別對一待測物發射光線,使該待測物與該光線反應而產生複數個光訊號;及複數個偵測器,係用以根據該控制命令,分別接收該複數個光訊號,以將該複數個光訊號傳輸至該控制單元,其中,該複數個偵測器彼此的相對位置、該複數個光源彼此的相對位置、該複數個偵測器與該複數個光源的相對位置係具有預定距離,且該複數個光源的每一者係對應有預定數量個偵測器,其中,該控制單元判斷所接收到的光訊號數量是否達該預定數量;若該控制單元所接收到的光訊號數量尚未達該預定數量時,令對應各該光源的預定數量個偵測器繼續接收該待測物與該光線反應所產生的光訊號,以將之傳輸至該控制單元,直到該控制單元所接收到的光訊號數量達到該預定數量為止;以及令該控制單元判斷該複數個光源的全部是否均已對該待測物發射該光線;若該複數個光源尚未全部對該待測物發射該光線,則令該複數個光源中尚未發射該光線者對該待測物發射該光線,直到令該複數個光源的全部均已對該待測物發射該光線為止。 |
官方說明文件#: | A61B008/13 |
URI: | http://hdl.handle.net/11536/128720 |
專利國: | TWN |
專利號碼: | I484943 |
Appears in Collections: | Patents |
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