標題: 半導體-絕緣體-半導體(SIS)異質接面結構應用於光檢測器製備之研究
A Study of Semiconductor-Insulator-Semiconductor (SIS) Heterojunction Structure Applied to the Fabrication of Photodetectors
作者: 謝宗雍
HSIEH TSUNG-EONG
國立交通大學材料科學與工程學系(所)
公開日期: 2015
官方說明文件#: MOST104-2221-E009-034-MY3
URI: http://hdl.handle.net/11536/129987
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=11586381&docId=472785
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