| 標題: | 高電子遷移率電晶體及其製造方法 |
| 作者: | 張翼 林岳欽 謝廷恩 |
| 公開日期: | 16-五月-2016 |
| 摘要: | 本發明提供一種高電子遷移率電晶體,以閘極掘入結構搭配高介電常數氧化層以及氮化物介面鈍化層,具有高臨界電壓、高轉導、高穩定之汲極輸出電流以及高可靠度等特性及優點。 |
| 官方說明文件#: | H01L029/778 H01L021/28 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/132275 |
| 專利國: | TWN |
| 專利號碼: | 201618304 |
| 顯示於類別: | 專利資料 |
| 標題: | 高電子遷移率電晶體及其製造方法 |
| 作者: | 張翼 林岳欽 謝廷恩 |
| 公開日期: | 16-五月-2016 |
| 摘要: | 本發明提供一種高電子遷移率電晶體,以閘極掘入結構搭配高介電常數氧化層以及氮化物介面鈍化層,具有高臨界電壓、高轉導、高穩定之汲極輸出電流以及高可靠度等特性及優點。 |
| 官方說明文件#: | H01L029/778 H01L021/28 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/132275 |
| 專利國: | TWN |
| 專利號碼: | 201618304 |
| 顯示於類別: | 專利資料 |