以SIFT及模板匹配為基礎實現DIP式 Y電容外形自動檢測之研究

標題:	以SIFT及模板匹配為基礎實現DIP式 Y電容外形自動檢測之研究 A SIFT and Template Matching Based Automatic Appearance Detection Method for DIP Y-Type Capacitors
作者:	劉宜容林昇甫 Liu, Yi-Rong Lin, Sheng-Fuu 電機學院電機與控制學程
關鍵字:	自動光學檢測;插件式(DIP)電容;瑕疵檢測;Automated Optical Inspection;(DIP) capacitor;Defect Detection
公開日期:	2016
URI:	http://etd.lib.nctu.edu.tw/cdrfb3/record/nctu/#GT070260614 http://hdl.handle.net/11536/140995
顯示於類別：	畢業論文