利用錯誤更正碼設計與實作之衛星應用可容忍軟性錯誤靜態隨機存取記憶體

標題:	利用錯誤更正碼設計與實作之衛星應用可容忍軟性錯誤靜態隨機存取記憶體 Soft-Error Resilient SRAM by Error-Correction Code Design and Implementation for Satellite Application
作者:	簡伯豪闕河鳴 Chien, Po-Hao Chiueh, Herming 電機工程學系
關鍵字:	抗輻射靜態隨機存取記憶體;錯誤更正碼;記憶體刷新;內建自我測試;重離子;單粒子翻轉;衛星應用;radiation-hardened SRAM;error-correction code (ECC);memory scrubbing;built-in self-test (BIST);heavy ion;single-event upset (SEU);satellite application
公開日期:	2016
URI:	http://etd.lib.nctu.edu.tw/cdrfb3/record/nctu/#GT070250712 http://hdl.handle.net/11536/142184
顯示於類別：	畢業論文