ELLIPSOMETRY MEASUREMENTS ON REFRACTIVE-INDEX PROFILES OF THIN-FILMS

標題:	ELLIPSOMETRY MEASUREMENTS ON REFRACTIVE-INDEX PROFILES OF THIN-FILMS
作者:	HO, JH LEE, CL LEI, TF 交大名義發表電控工程研究所 National Chiao Tung University Institute of Electrical and Control Engineering
公開日期:	1-八月-1990
URI:	http://dx.doi.org/10.1109/19.57248 http://hdl.handle.net/11536/4056
ISSN:	0018-9456
DOI:	10.1109/19.57248
期刊:	IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT
Volume:	39
Issue:	4
起始頁:	642
結束頁:	648
顯示於類別：	期刊論文

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