蒸鍍在焦電材料PZT 基座上Te 薄膜特性之研究

Abstract

本文研究蒸鍍在PZT 與玻璃基座上Te薄膜的特性。測量Te薄膜的導電性與霍爾效應我 們觀察Te薄膜電的特性, 并利用10.6μm 的CO 雷射觀察PZT 的焦電效應, 我們提出 一簡單模型解釋該現象。