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dc.contributor.author莊偉雄en_US
dc.contributor.authorZhuang, Wei-Xiongen_US
dc.contributor.author郭雙發en_US
dc.contributor.authorGuo, Shuang-Faen_US
dc.date.accessioned2014-12-12T02:02:06Z-
dc.date.available2014-12-12T02:02:06Z-
dc.date.issued1980en_US
dc.identifier.urihttp://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT694430027en_US
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11536/51394-
dc.description.abstract本論文的目的在研究磷在矽中之預積, 并建立一擴散模型, 依此撰寫一套程式, 用以 模擬及預估雜質濃度曲線。 實驗表里以POCl 為擴散源, 在含氧的環境中分別於不同的溫度下, 不同的時間內, 將磷預積於矽晶圓內。然后, 經過氧極氧化, 剝離氧化矽層, 片電阻值測試等重復程 序, 所得到的片電阻經過轉換后獲得雜質濃度曲線。 擴散模型的建立, 考慮到磷在矽中之擴散的雙重性, 即磷的擴散經由復電荷態矽空位 及間隙矽粒子雙重效應, 依此, 一組差分方程式: 包括粒子傳送方程式、連續方程式 、波義松方程式, 經適當地選擇邊界值之后, 利用電腦程式運算, 而準確地予以預估 與模擬。zh_TW
dc.language.isozh_TWen_US
dc.subject擴散源zh_TW
dc.subjectzh_TW
dc.subjectzh_TW
dc.subject預置zh_TW
dc.subject擴散模型zh_TW
dc.subject雜質曲線zh_TW
dc.subject電子工程zh_TW
dc.subjectPOCLen_US
dc.subjectELECTRONIC-ENGINEERINGen_US
dc.title以Pocl 為擴散源,研究磷在矽中之預置zh_TW
dc.typeThesisen_US
dc.contributor.department電子研究所zh_TW
顯示於類別:畢業論文