完整後設資料紀錄
DC 欄位 | 值 | 語言 |
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dc.contributor.author | 游如淵 | en_US |
dc.contributor.author | You, Ru-Yuan | en_US |
dc.contributor.author | 謝正雄 | en_US |
dc.contributor.author | 潘犀靈 | en_US |
dc.contributor.author | 楊宗哲 | en_US |
dc.contributor.author | Xie, Zheng-Xiong | en_US |
dc.contributor.author | Pan, Xi-Ling | en_US |
dc.contributor.author | Yang, Zong-Zhe | en_US |
dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:02:33Z | - |
dc.date.available | 2014-12-12T02:02:33Z | - |
dc.date.issued | 1982 | en_US |
dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT714123004 | en_US |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/51663 | - |
dc.description.abstract | 本論文的最大目的,在於製造一個精確、穩定又方便的電校正式焦電型輻射儀。首先 我們先討論焦電效應及其電壓響應,以作為此系統的理論基礎,然後應用到實際上, 而完成了電校正式焦電輻射儀系統。此系統的最大工作原理,是焦電偵測器僅對調變 信號會起反應,此時光源與蒸鍍在偵測器之下的電阻所生的熱作比較,當二者相等時 ,偵測器沒有反應,此時光源的功率可由加之於電阻器上的功率而計算得之。 在我們的系統□,包括硬體(電子電路)及軟體(微處理機),微處理機是整個系統 的控制核心,同時存了所有光頻的吸收率及一些校正係數,所以此系統所能量取的光 源功率可由可見光到遠紅外線,我們用此系統去量取氬離子雷射的功率,然後與其本 身的功率表作一比較。最後對於未來的發展作了些許的建議。 | zh_TW |
dc.language.iso | zh_TW | en_US |
dc.subject | 電校正式 | zh_TW |
dc.subject | 焦電幅射儀系統 | zh_TW |
dc.subject | 焦電效應 | zh_TW |
dc.subject | 電壓響應 | zh_TW |
dc.subject | 調變信號 | zh_TW |
dc.subject | 微處理機 | zh_TW |
dc.subject | 氬離子 | zh_TW |
dc.subject | 光電學 | zh_TW |
dc.subject | 光學 | zh_TW |
dc.subject | 雷射學 | zh_TW |
dc.subject | 光電工程 | zh_TW |
dc.subject | ELECTRO-OPTICS-ENGINEERING | en_US |
dc.subject | OPTICS | en_US |
dc.subject | LASER | en_US |
dc.subject | OPTI-ELECTRONIC-ENGINEERING | en_US |
dc.title | 電校正式之焦電幅射儀系統的設計 | zh_TW |
dc.type | Thesis | en_US |
dc.contributor.department | 光電工程學系 | zh_TW |
顯示於類別: | 畢業論文 |