標題: 建立於HP 9845 上的元件測試及特性分析系統
作者: 朱元華
Zhu, Yuan-Hua
李崇仁
任建葳
Li, Chong-Ren
Ren, Jian-Wei
電子研究所
關鍵字: HP-9845 型電腦;元件;分離式半導體元件;電流;電壓;超大型積體電路;積體電路;電路;電子工程;ELECTRONIC-ENGINEERING
公開日期: 1982
摘要: 本文詳述了套建立在HP9845型電腦上的元件自動測試和特性分系統。在此系統中,不 但可以自動測量分離式半導體元件的電流對電壓及電容對電壓的特性,並且可以找出 電路模擬程式所需要的元件參數,便進一步的還可以分析採用的元件模型。 本文也詳述了此系統儀器整體組合和軟體結構,並且也討論了元件模擬方程式和參數 尋找的技巧。此系統並且具有自由組合,可擴展和容易使用的特性,因此在超大型積 體電路的設計中,此系統在電路模擬和製程發展是一套非常有效而且重要的工具。
URI: http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT714428016
http://hdl.handle.net/11536/51737
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